温度冲击试验通常用于要求满足军标的芯片、集成电路、印刷线路电路板等产品的测试。现在很多民用企业也要求作快速温变极限试验，作为提高可靠性，提高产品质量程序的一部分。

产品型号：AB-500
厂商性质：生产厂家
更新时间：2025-12-16
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产品详情

高低温冲击试验箱，用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度, 藉以在zui短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害.适用的对象包括金属, 塑料, 橡胶, 电子....等材料,可作为其产品改进的依据或参考

用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具.

1.1温度范围：高温箱：+60℃～150℃；

低温箱：0℃～-60℃；

1.2温度波动度：±1℃;

1.3温度误差：±2℃;

1.4升温速率：从常温～150℃≤30min；(全程平均)

1.5降温速率：从常温～-60℃≤40min；；(全程平均)

1.6予冷下限温度：≤-65℃;

1.7冲击温度：+150～-60℃;

1.8工作室尺寸：560×660×500mmX2(高温室和低温室); （深×宽×高）

1.9外形尺寸：约1900×950×1800mm; （深×宽×高）

1.10样品架尺寸:360×460mm;

1.11电源：380V±38V 50Hz±1Hz

1.12功率：15Kw

1.13温度恢复时间：≤5-10min;

1. 14样品架转换时间：≤10s;

1. 15样品架承重：不大于5公斤。

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温度冲击试验通常用于要求满足军标的芯片、集成电路、印刷线路电路板等产品的测试。现在很多民用企业也要求作快速温变极限试验，作为提高可靠性，提高产品质量程序的一部分。

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